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03/01/2018

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Estudo resolve controvérsia sobre estrutura eletrônica de defeitos em grafeno

Estudo resolve controvérsia sobre estrutura eletrônica de defeitos em grafeno

José Tadeu Arantes  |  Agência FAPESP * – Um estudo conduzido no Instituto de Física da Universidade de São Paulo (IFUSP) resolveu controvérsia que há muito se arrastava na comunidade internacional de pesquisadores dedicada à investigação de defeitos em folhas de grafeno.

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